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半导体设计和制造 – 泰克半导体测试方案

  2020-05-07  

泰克及旗下吉时利品牌,提供从晶元到系统的专业半导体测试方案。包括半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台等。

半导体材料测试平台包括:

针对晶元级半导体材料或半导体器件,泰克提供半导体参数分析仪(4200A-SCS,用于测试分离器件、材料的三大特性:1、直流特性,如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等; 2、电容电压特性CV曲线(CVU);3脉冲特性测试(PMU),支持超高速脉冲测试。支持以上特性的多通道同步测试。

针对高功率半导体材料或半导体器件,泰克提供高功率晶体管参数曲线图示仪(2600B-PCT),或称晶体管曲线追踪仪,支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。

半导体工艺测试平台包括:

针对大规模测试,如晶元上多点测试,复杂系统的自动化测试,泰克提供自动化半导体参数测试系统(S500/S530/S540),支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。广泛用于晶元的失效分析测试(FA),质量控制测试(QA),可靠性分析测试(RA)。其中S540支持高压功率半导体自动化参数测试。

芯片设计测试平台包括:

针对高速串行芯片设计,泰克提供完整的发送端测试解决方案,配备高带宽实时示波器、各种探头、一致性测试夹具、一致性测试软件等,支持的标准覆盖各类常用标准,包括:PCIE/DDR/USB/ETH等等。

芯片验证测试平台包括:

针对高速串行芯片设计,泰克提供完整的接收端容限测试解决方案,配备高速误码率分析仪,及一致性测试夹具、一致性测试软件等,支持的标准覆盖各类常用标准。

 

推荐设备

SMU源测量单元

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为用户灵活、精准的同时提供和测量电流/电压

 

4200A-SCS参数测试仪

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用于测试分离器件、材料的直流特性(IV/IT/VT/RT曲线),电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试(PMU),支持超高速脉冲测试

 

2600-PCT高功率器件参数曲线追踪仪

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支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试

 

S500/S530/S540自动化半导体测试系统

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广泛用于新一代材料半导体的参数特性检测,用于失效分析测试(FA),质量控制测试(QA),可靠性分析测试(RA)

 

MSO6系列示波器

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低噪声,高精度,超大屏幕,用于新一代USB,DDR和PCIe测试

 

DPO/MSO70000示波器

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最高可达70GHz带宽,完整还原高速信号,广泛应用于数据通信领域测试

 

BSX320误码仪

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支持最高可达32Gb/s 速率的高速总线应用,自动化误码检测、查找、纠正系统